«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 8
Мониторинг, оценка и
обеспечение
качества ЭКБ
Страница 10
Monitoring, evaluation and quality assurance of electronic component base
Page 10
Унификации маловыводных рамок и использования стандартов МЭК для их применения
Страница 28
Unification of multi-output frames and the use of international standards for their application
Page 28
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ МЕТОДОМ СРАВНЕНИЯ ШАБЛОНОВ
Страница 18
AUTOMATED VISUAL QUALITY CONTROL OF MICROELECTRONICS PRODUCTS BY TEMPLATE MATCHING METHOD
Page 18
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
