«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 30
Обеспечение единства измерений электрических параметров полупроводниковых материалов для микро- и наноэлектроники
Страница 13
Ensuring the unity of measurements of electrical parameters of semiconductor materials for micro-and nanoelectronics
Page 13
Значение метрологического обеспечения в радиоэлектронной отрасли и его совершенствование
Страница 16
The importance of metrological support in the radio electronic branch and its improvement
Page 16
МЕТРОЛОГИЧЕСКИЙ НАДЗОР ПРИ ПРОВЕДЕНИИ ВНУТРЕННЕГО АУДИТА КАК ИНСТРУМЕНТ СОВЕРШЕНСТВОВАНИЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТИ ИСПЫТАТЕЛЬНОЙ ЛАБОРАТОРИИ (ЦЕНТРА)
Страница 22
THE METROLOGICAL SUPERVISION IN THE COURSE OF INTERNAL AUDIT AS AN INSTRUMENT OF TESTING LABORATORY (CENTER) IMPROVING
Page 22
О НЕКОТОРЫХ ПРОБЛЕМАХ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ АНАЛИЗАТОРОВ ВЛАЖНОСТИ
Страница 25
ABOUT SOME PROBLEMS OF ENSURING THE UNIFORMITY OF MEASUREMENTS OF MOISTURE ANALYZERS
Page 25
ФОРМИРОВАНИЕ СИСТЕМЫ ИНФОРМАЦИОННОЙ ПОДДЕРЖКИ ПРОЦЕССОВ ИМПОРТОЗАМЕЩЕНИЯ В РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Страница 2
FORMATION OF AN INFORMATION SUPPORT SYSTEM FOR IMPORT SUBSTITUTION PROCESSES IN THE RADIO-ELECTRONICS INDUSTRY
Page 2
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
4
5
6
