«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 4
ДЛИТЕЛЬНОСТЬ ХРАНЕНИЯ БЕСКОРПУСНЫХ МИКРОСХЕМ ПРИ СОЗДАНИИ СТРАХОВЫХ ЗАПАСОВ
Страница 18
STORAGE DURATION BODYLESS MICROCIRCUITS WHEN CREATING INSURANCE STOCKS
Page 18
ОБ ОДНОМ МЕТОДЕ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ СОХРАНЯЕМОСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
Страница 24
ON ONE METHOD FOR FORECASTING INDICATORS OF SAVING THE ELECTRONIC COMPONENT BASE
Page 24
ОСОБЕННОСТИ ТЕСТИРОВАНИЯ СТАТИЧЕСКОГО ОПЕРАТИВНОГО ЗАПОМИНАЮЩЕГО УСТРОЙСТВА
Страница 9
FEATURES OF TESTING STATIC RANDOM-ACCESS MEMORY
Page 9
О ВОЗМОЖНОМ СОКРАЩЕНИИ ОБЪЕМА ИСПЫТАНИЙ ПРИ ПОДТВЕРЖДЕНИИ ТРЕБОВАНИЙ К СОХРАНЯЕМОСТИ
Страница 22
ABOUT A POSSIBLE REDUCTION IN THE VOLUME OF TESTS WHEN CONFIRMING THE PERSISTENCE REQUIREMENTS
Page 22
